Measurement assembly for measuring a deposition rate, evaporation source, deposition apparatus, and method therefor
WO2018077388
Art A1
3. Mai 2018
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018077388
- Aktenzeichen
- EP16787816
- Anmeldetag
- 25. Oktober 2016
- Veröffentlichung
- 3. Mai 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C23C14/04C23C14/12C23C14/24C23C14/54G01B7/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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