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WO2018079399 Art A1 3. Mai 2018

Anmelder: Enplas Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018079399
Aktenzeichen: EP17865364
Anmeldetag: 19. Oktober 2017
Veröffentlichung: 3. Mai 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/26G01B11/00G02B3/00G02B3/06

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Enplas Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Enplas

Enplas ist ein japanischer Hersteller optischer und feinmechanischer Kunststoffkomponenten, unter anderem für Displays, Steckverbinder und Halbleitertests. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Optik und Fototechnik sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Mess- und Beleuchtungstechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

606 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von