Method and apparatus for inspecting defects on transparent substrate

WO2018085233 Art A1 11. Mai 2018

Anmelder: Corning Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018085233
Aktenzeichen: EP17866701
Anmeldetag: 31. Oktober 2017
Veröffentlichung: 11. Mai 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01B11/24G01N21/956G02B21/10G02B21/18H01L21/66

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Corning Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Corning

US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Corning, New York. Corning ist spezialisiert auf Spezialglas, Keramik und optische Fasern für Displays, Telekommunikation, Automobiltechnik, Life Sciences und Umwelttechnik.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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