Sample adaptive offset parameter prediction method and apparatus therefor

WO2018092982 Art A2 24. Mai 2018

Anmelder: Korea Electronics Technology Institute 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018092982
Aktenzeichen: EP17872117
Anmeldetag: 10. Februar 2017
Veröffentlichung: 24. Mai 2018
Rechtsraum: WO
IPC: H04N19/103H04N19/147H04N19/96H04N19/124H04N19/50

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Korea Electronics Technology Institute
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Korea Electronics Technology Institute

Staatlich gefördertes südkoreanisches Forschungsinstitut für Elektronik- und IT-Technologien mit Sitz in Seongnam, das Unternehmen bei Entwicklung und Kommerzialisierung neuer Technologien unterstützt.

568 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von