Image feature repeatability measurement method and device

WO2018098697 Art A1 7. Juni 2018

Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018098697
Aktenzeichen: EP16922831
Anmeldetag: 30. November 2016
Veröffentlichung: 7. Juni 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G06K9/54G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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