Atomic force microscopy based on nanowire tips for high aspect ratio nanoscale metrology/confocal microscopy

WO2018102439 Art A1 7. Juni 2018

Anmelder: STC.UNM 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018102439
Aktenzeichen: EP17875649
Anmeldetag: 29. November 2017
Veröffentlichung: 7. Juni 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01Q70/08G01Q70/16G01Q60/06G01Q60/38B82Y35/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: STC.UNM
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Stc.unm

STC.UNM ist die Technologietransfergesellschaft der University of New Mexico in den USA. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik, Pharma-/Biotechnologie und Mess-, Prüf- sowie Halbleitertechnik. Die Anmeldungen von 2001 bis 2020 reichen von Isotopentrennverfahren bis zur elektrischen Impedanzspektroskopie.

299 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von