Analysis device, analysis program, and analysis method

WO2018109826 Art A1 21. Juni 2018

Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2018109826
Aktenzeichen
EP16923899
Anmeldetag
13. Dezember 2016
Veröffentlichung
21. Juni 2018
Rechtsraum
WO
IPC
C12M1/00G01N33/48G06T1/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Nikon Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

3.320 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen