Sibn film for conformal hermetic dielectric encapsulation without direct rf exposure to underlying structure material

WO2018118288 Art A1 28. Juni 2018

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2018118288
Aktenzeichen
EP17883507
Anmeldetag
16. November 2017
Veröffentlichung
28. Juni 2018
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/02H01L21/768H01L21/324H01L27/115
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Applied Materials, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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