Resistivity-based adjustment of measurements from in-situ monitoring

WO2018132424 Art A1 19. Juli 2018

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018132424
Aktenzeichen: EP18739411
Anmeldetag: 10. Januar 2018
Veröffentlichung: 19. Juli 2018
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/67H01L21/304H01L21/3105H01L21/321

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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