Parameter calibration method, device, and system for x-ray machine

WO2018133090 Art A1 26. Juli 2018

Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018133090
Aktenzeichen: EP17892761
Anmeldetag: 23. Januar 2017
Veröffentlichung: 26. Juli 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shenzhen Institutes of Advanced Technology
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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