Foreign matter detection device, foreign matter detection method and manufacturing device

WO2018135231 Art A1 26. Juli 2018

Anmelder: Sharp Kabushiki Kaisha, PS&T Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018135231
Aktenzeichen: EP17893333
Anmeldetag: 21. Dezember 2017
Veröffentlichung: 26. Juli 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/93G01N21/3563G01N21/359G01N21/85

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: Sharp Kabushiki Kaisha
PS&T Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sharp

Japanischer Elektronikkonzern mit Sitz in Sakai bei Osaka, seit 2016 mehrheitlich zu Foxconn gehörend. Aktiv in Displaytechnik (LCD, OLED), Unterhaltungselektronik, Haushaltsgeräten sowie Halbleiter- und Solartechnologie.

22.800 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von