Method for manufacturing semiconductor device, photosensitive resin composition for mold underfill, and semiconductor device
WO2018139407
Art A1
2. August 2018
Anmelder: Hitachi Chemical Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018139407
- Aktenzeichen
- EP18744744
- Anmeldetag
- 22. Januar 2018
- Veröffentlichung
- 2. August 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/56G03F7/027G03F7/032G03F7/20H01L23/12H01L23/29H01L23/31H05K3/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi Chemical Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi Chemical
Ehemaliges japanisches Chemieunternehmen, das Materialien für Halbleiter, Batterien und Verbundwerkstoffe herstellte. Ging nach mehreren Umfirmierungen im Konzern Resonac auf.
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Vertreten von
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