Method for manufacturing semiconductor device, photosensitive resin composition for mold underfill, and semiconductor device

WO2018139407 Art A1 2. August 2018

Anmelder: Hitachi Chemical Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2018139407
Aktenzeichen
EP18744744
Anmeldetag
22. Januar 2018
Veröffentlichung
2. August 2018
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/56G03F7/027G03F7/032G03F7/20H01L23/12H01L23/29H01L23/31H05K3/28
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Hitachi Chemical Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Hitachi Chemical

Ehemaliges japanisches Chemieunternehmen, das Materialien für Halbleiter, Batterien und Verbundwerkstoffe herstellte. Ging nach mehreren Umfirmierungen im Konzern Resonac auf.

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