Metrology method and apparatus and associated computer product

WO2018141503 Art A1 9. August 2018

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018141503
Aktenzeichen: EP18702065
Anmeldetag: 8. Januar 2018
Veröffentlichung: 9. August 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/20G01N21/47H01L21/66G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML Netherlands B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

3.336 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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