Methods and apparatus for predicting performance of a measurement method, measurement method and apparatus
WO2018145837
Art A1
16. August 2018
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018145837
- Aktenzeichen
- EP18700869
- Anmeldetag
- 8. Januar 2018
- Veröffentlichung
- 16. August 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20G03F9/00G01N21/47G01N21/956
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
3.336 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.