Substrate inspection device

WO2018146839 Art A1 16. August 2018

Anmelder: CKD Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018146839
Aktenzeichen: EP17895777
Anmeldetag: 23. August 2017
Veröffentlichung: 16. August 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/00H05K3/34

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: CKD Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 CKD

CKD ist ein japanischer Hersteller von Automatisierungs-, Pneumatik- und Verpackungstechnik mit Sitz in Komaki. Das Patentportfolio betrifft Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Maschinenelemente und Fluidtechnik, insbesondere Ventile und Fördersysteme. Die Anmeldungen erstrecken sich von 2001 bis 2025.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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