Circuit and method for testing gate line of array substrate

WO2018152884 Art A1 30. August 2018

Anmelder: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018152884
Aktenzeichen: EP17897507
Anmeldetag: 14. März 2017
Veröffentlichung: 30. August 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G02F1/1362

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd.
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 China Star Optoelectronics (CSOT)

Chinesischer Displayhersteller mit Sitz in Shenzhen, Tochtergesellschaft des TCL-Konzerns. CSOT entwickelt und produziert LCD- und OLED-Panels für Fernseher, Monitore und mobile Endgeräte.

14.706 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Optik & Fototechnik

Vertreten von