Methods of determining scattering of radiation by structures of finite thicknesses on a patterning device

WO2018153735 Art A1 30. August 2018

Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018153735
Aktenzeichen: EP18706229
Anmeldetag: 13. Februar 2018
Veröffentlichung: 30. August 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G03F7/20G06F17/50

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ASML Netherlands B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 ASML

Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik Software & Datenverarbeitung

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