Tester and method for testing a device under test and tester and method for determining a single decision function
WO2018162047
Art A1
13. September 2018
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018162047
- Aktenzeichen
- EP17710854
- Anmeldetag
- 7. März 2017
- Veröffentlichung
- 13. September 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28G06F11/36
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
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