Test apparatus and method for characterizing a device under test
WO2018162048
Art A1
13. September 2018
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018162048
- Aktenzeichen
- EP17710695
- Anmeldetag
- 7. März 2017
- Veröffentlichung
- 13. September 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F11/36G06F11/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
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