Crack tip end position detecting method, and adhesive peeling position detecting method
WO2018164212
Art A1
13. September 2018
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018164212
- Aktenzeichen
- EP18763486
- Anmeldetag
- 8. März 2018
- Veröffentlichung
- 13. September 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N19/04G01B11/00G01N3/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
3.785 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.