Device testing using dual-fan cooling with ambient air
WO2018165601
Art A1
13. September 2018
Anmelder: Advantest Corporation, Wolff, Roland 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018165601
- Aktenzeichen
- EP18763452
- Anmeldetag
- 9. März 2018
- Veröffentlichung
- 13. September 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Advantest Corporation
Wolff, Roland - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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