Method and system for classifying lower back pain symptom based on sample entropy

WO2018170788 Art A1 27. September 2018

Anmelder: Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018170788
Aktenzeichen: EP17901470
Anmeldetag: 22. März 2017
Veröffentlichung: 27. September 2018
Rechtsraum: WO
IPC: A61B5/0488

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shenzhen Institutes of Advanced Technology Chinese Academy of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Shenzhen Institutes of Advanced Technology

Chinesisches Forschungsinstitut in Shenzhen unter der Chinesischen Akademie der Wissenschaften mit Schwerpunkten in Robotik, Biomedizintechnik und neuen Materialien.

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Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit

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