Detection device and method for differentiating and recording position of silicon wafer
WO2018171148
Art A1
27. September 2018
Anmelder: Beijing University of Technology 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018171148
- Aktenzeichen
- EP17901959
- Anmeldetag
- 25. September 2017
- Veröffentlichung
- 27. September 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/00B25J9/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Beijing University of Technology
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Beijing University of Technology
Die Beijing University of Technology ist eine staatliche Hochschule in China mit breit gefächerter technischer Forschung. Das Patentportfolio verteilt sich auf Software, Mess- und Prüftechnik, anorganische Chemie sowie Halbleiter- und Fertigungstechnik. Die Anmeldungen seit 2007 reichen von neuronaler Stimulationstechnik bis zu Werkstoff- und Oberflächentechnik.
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