Bismuth ferrite-based dielectric thin film for high-density energy storage, preparation method therefor and use thereof

WO2018177019 Art A1 4. Oktober 2018

Anmelder: Tsinghua University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2018177019
Aktenzeichen
EP18776997
Anmeldetag
31. Januar 2018
Veröffentlichung
4. Oktober 2018
Rechtsraum
WO
IPC
C04B35/453C04B35/47
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Tsinghua University
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Tsinghua University

Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.

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