Method and apparatus for inspecting goods on basis of radiation image
WO2018184596
Art A1
11. Oktober 2018
Anmelder: Nuctech Company Limited 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018184596
- Aktenzeichen
- EP18781006
- Anmeldetag
- 8. April 2018
- Veröffentlichung
- 11. Oktober 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06K9/62
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Nuctech Company Limited
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Nuctech
Chinesisches Unternehmen mit Sitz in Peking, spezialisiert auf Sicherheitsscanner und Inspektionssysteme für Flughäfen, Häfen und Grenzübergänge.
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