Charged particle beam device and cell evaluation method

WO2018189877 Art A1 18. Oktober 2018

Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018189877
Aktenzeichen: EP17905617
Anmeldetag: 14. April 2017
Veröffentlichung: 18. Oktober 2018
Rechtsraum: WO
IPC: C12M1/34C12Q1/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

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Fachgebiete

Pharma & Biotechnologie

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