Pseudo speckle pattern generation device, pseudo speckle pattern generation method, observation device, and observation method

WO2018190111 Art A1 18. Oktober 2018

Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018190111
Aktenzeichen: EP18784429
Anmeldetag: 26. März 2018
Veröffentlichung: 18. Oktober 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G02B27/48G02B21/06G02F1/13

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hamamatsu Photonics K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Optik & Fototechnik

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