Method of determining a focus of a projection system, device manufacturing method, and apparatus for determining a focus of a projection system
WO2018206199
Art A1
15. November 2018
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018206199
- Aktenzeichen
- EP18716587
- Anmeldetag
- 5. April 2018
- Veröffentlichung
- 15. November 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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