Metrology sensor, lithographic apparatus and method for manufacturing devices
WO2018210505
Art A1
22. November 2018
Anmelder: ASML Netherlands B.V., ASML Holding N.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018210505
- Aktenzeichen
- EP18717374
- Anmeldetag
- 13. April 2018
- Veröffentlichung
- 22. November 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ASML Netherlands B.V.
ASML Holding N.V. - Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
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