Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung einer Messkapazität
WO2018215615
Art A1
29. November 2018
Anmelder: Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018215615
- Aktenzeichen
- EP18727775
- Anmeldetag
- 24. Mai 2018
- Veröffentlichung
- 29. November 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R27/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Elmos Semiconductor
Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.
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