Dut testing with configurable cooling control using dut internal temperature data
WO2018218168
Art A1
29. November 2018
Anmelder: Advantest Corporation, Chen, Leon 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2018218168
- Aktenzeichen
- EP18805405
- Anmeldetag
- 25. Mai 2018
- Veröffentlichung
- 29. November 2018
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/28G01R31/317
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Advantest Corporation
Chen, Leon - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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