Method for determining configuration of surface defect inspection device, configuration determination device, configuration determination program, and recording medium

WO2018225406 Art A1 13. Dezember 2018

Anmelder: Konica Minolta, Inc. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018225406
Aktenzeichen: EP18813289
Anmeldetag: 23. April 2018
Veröffentlichung: 13. Dezember 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/88G01B11/30G03B15/00H04N5/225H04N7/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Konica Minolta, Inc.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Konica Minolta

Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.

8.771 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation Optik & Fototechnik

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