Contact probe inspection device and control method for contact probe inspection device

WO2018235234 Art A1 27. Dezember 2018

Anmelder: Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018235234
Aktenzeichen: EP17914375
Anmeldetag: 22. Juni 2017
Veröffentlichung: 27. Dezember 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01R1/067G01R1/073

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shindengen Electric Manufacturing

Shindengen Electric Manufacturing ist ein japanischer Hersteller von Leistungshalbleitern und Stromversorgungskomponenten, unter anderem für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie elektrische Energietechnik, ergänzt durch Elektronik und Fahrzeugtechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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