Analysis device, analysis program, and analysis method

WO2018235251 Art A1 27. Dezember 2018

Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2018235251
Aktenzeichen: EP17914639
Anmeldetag: 23. Juni 2017
Veröffentlichung: 27. Dezember 2018
Rechtsraum: WO
IPC: G01N33/48C12M1/00G01N21/27G01N33/483G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Nikon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

3.320 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Pharma & Biotechnologie Software & Datenverarbeitung

Vertreten von