Refractive index sensor, manufacturing method thereof, and refractive index measurement device

WO2019000369 Art A1 3. Januar 2019

Anmelder: Shenzhen University 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2019000369
Aktenzeichen
EP17915417
Anmeldetag
30. Juni 2017
Veröffentlichung
3. Januar 2019
Rechtsraum
WO
IPC
G01N21/45
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Shenzhen University
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Shenzhen University

Shenzhen University ist eine staatliche Universität in Shenzhen, China, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Elektrotechnik, Materialwissenschaft und Optik.

1.287 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen