System and method for in-situ x-ray diffraction-based real-time monitoring of microstructure properties of printing objects

WO2019006102 Art A1 3. Januar 2019

Anmelder: University of Maryland, College Park, Advanced Analyzer Labs, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019006102
Aktenzeichen: EP18823542
Anmeldetag: 28. Juni 2018
Veröffentlichung: 3. Januar 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/207G01N23/02G01N23/205G01N23/2055G01N23/223H01Q15/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: University of Maryland, College Park
Advanced Analyzer Labs, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 University of Maryland, College Park

Die University of Maryland, College Park ist eine öffentliche Forschungsuniversität im US-Bundesstaat Maryland mit breitem naturwissenschaftlich-technischem Fächerspektrum. Das Patentportfolio aus der universitären Forschung verteilt sich auf Medizintechnik, Halbleitertechnik sowie organische Chemie und Pharma- bzw. Biotechnologie. Anmeldungen laufen durchgehend seit 2000.

363 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von