Semiconductor storage device and method for forming a profile of a capacitor thereof

WO2019007373 Art A1 10. Januar 2019

Anmelder: Changxin Memory Technologies, Inc. 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2019007373
Aktenzeichen
EP18827543
Anmeldetag
4. Juli 2018
Veröffentlichung
10. Januar 2019
Rechtsraum
WO
IPC
H01L23/64H01L27/108
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Changxin Memory Technologies, Inc.
Land
🇨🇳 China
🇨🇳 Changxin Memory Technologies

Chinesischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Hefei, spezialisiert auf DRAM-Speicherchips.

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