Inspection tool, lithographic apparatus, lithographic system, inspection method and device manufacturing method
WO2019011608
Art A1
17. Januar 2019
Anmelder: ASML Netherlands B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019011608
- Aktenzeichen
- EP18731464
- Anmeldetag
- 20. Juni 2018
- Veröffentlichung
- 17. Januar 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F9/00G01N23/225G01R31/305
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ASML Netherlands B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
ASML
Niederländisches Unternehmen, das Lithografiesysteme und weitere Anlagen für die Halbleiterfertigung entwickelt und herstellt, zentral für die Chipindustrie.
3.336 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.