Optical emission spectroscopy (oes) for remote plasma monitoring

WO2019018019 Art A2 24. Januar 2019

Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019018019
Aktenzeichen: EP18834601
Anmeldetag: 10. April 2018
Veröffentlichung: 24. Januar 2019
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01N21/73H01L21/3065H01L21/67H01J37/32

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Applied Materials, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Applied Materials

US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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