Optimized Sub-Sampling in an Electron Microscope

WO2019027737 Art A1 7. Februar 2019

Anmelder: Battelle Memorial Institute 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019027737
Aktenzeichen: EP18840422
Anmeldetag: 24. Juli 2018
Veröffentlichung: 7. Februar 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01N23/2251G06T1/00G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Battelle Memorial Institute
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Battelle Memorial Institute

Gemeinnützige US-amerikanische Forschungsorganisation mit Sitz in Columbus, Ohio, die angewandte Forschung und Entwicklung in Technik, Energie und Materialwissenschaften betreibt.

755 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von