X-ray inspection system and x-ray inspection method
WO2019035234
Art A1
21. Februar 2019
Anmelder: Fuji Electric Co., Ltd., T&S Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019035234
- Aktenzeichen
- EP18846366
- Anmeldetag
- 12. März 2018
- Veröffentlichung
- 21. Februar 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N23/04G01N23/087G01N23/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fuji Electric Co., Ltd.
T&S Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fuji Electric
Japanischer Elektrotechnikkonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Leistungshalbleiter, Energieerzeugungsanlagen und industrielle Automatisierungstechnik.
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