Method and device for incorporating single diffusion break into nanochannel structures of fet devices
WO2019035945
Art A1
21. Februar 2019
Anmelder: Tokyo Electron Limited 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019035945
- Aktenzeichen
- EP18846837
- Anmeldetag
- 16. August 2018
- Veröffentlichung
- 21. Februar 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L29/66H01L29/417H01L29/78H01L29/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Electron Limited
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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