Edge detection method using arbitrary angle

WO2019041590 Art A1 7. März 2019

Anmelder: Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019041590
Aktenzeichen: EP17923424
Anmeldetag: 24. November 2017
Veröffentlichung: 7. März 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G06T7/13

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Institute Of Microelectronics, Chinese Academy Of Sciences
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences

Chinesisches Forschungsinstitut der Chinese Academy of Sciences mit Schwerpunkt auf Mikroelektronik und Halbleitertechnologie. Patente betreffen Chipdesign und Halbleiterfertigung.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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