Detecting Unreliable Bits in Transistor Circuitry

WO2019043551 Art A1 7. März 2019

Anmelder: Bar Ilan University 🇮🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019043551
Aktenzeichen: EP18785429
Anmeldetag: 27. August 2018
Veröffentlichung: 7. März 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G09C1/00H04L9/08

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Bar Ilan University
Land: 🇮🇱 Israel

🇮🇱 Bar-Ilan University

Bar-Ilan University ist eine israelische Universität mit umfangreicher Patentaktivität aus der akademischen Forschung. Das Portfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit sowie organische Chemie, ergänzt durch Mess- und Halbleitertechnik. Die Titel reichen von retinalen Neuroprothesen bis zu kryptografischen Verfahren.

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Fachgebiete

Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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