Device, program, and method for determining number of incidences required for measurement, and device, program, and method for estimating measurement precision
WO2019069512
Art A1
11. April 2019
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019069512
- Aktenzeichen
- EP18864333
- Anmeldetag
- 25. Juni 2018
- Veröffentlichung
- 11. April 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06Q10/04G01N33/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
3.785 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.