Method for measuring thickness of electrochemically deposited nano-film
WO2019072035
Art A1
18. April 2019
Anmelder: Tsinghua University 🇨🇳
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019072035
- Aktenzeichen
- EP18865675
- Anmeldetag
- 27. August 2018
- Veröffentlichung
- 18. April 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B21/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tsinghua University
- Land
- 🇨🇳 China
🇨🇳
Tsinghua University
Chinesische Universität mit Sitz in Peking, eine der führenden Forschungshochschulen des Landes. Aktiv in Ingenieurwissenschaften, Informatik, Materialwissenschaften und Naturwissenschaften sowie in zahlreichen technischen Anwendungsfeldern.
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