Substrate equipped with multi-layer reflection film, reflection-type mask blank, reflection-type mask, and semiconductor device manufacturing process
WO2019078205
Art A1
25. April 2019
Anmelder: Hoya Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019078205
- Aktenzeichen
- EP18868741
- Anmeldetag
- 16. Oktober 2018
- Veröffentlichung
- 25. April 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G03F1/22G03F1/84G03F7/20
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hoya Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hoya
Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, aktiv in den Bereichen optische Gläser, Halbleiterfotomasken und medizinische Endoskopie- sowie Augenheilkundeprodukte.
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