Film thickness measurement method, film thickness measurement system, method for manufacturing light reflection film, and light reflection film manufacturing system
WO2019087848
Art A1
9. Mai 2019
Anmelder: Konica Minolta, Inc. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019087848
- Aktenzeichen
- EP18872884
- Anmeldetag
- 22. Oktober 2018
- Veröffentlichung
- 9. Mai 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01B11/06G01N21/27G02B5/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Konica Minolta, Inc.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Konica Minolta
Japanisches Technologieunternehmen, das Bürodrucksysteme, Multifunktionsgeräte, optische Geräte sowie Mess- und Sensortechnik herstellt.
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