Method for visualizing and measuring thickness distribution of paint film layer and device therefor

WO2019103348 Art A1 31. Mai 2019

Anmelder: Korea Advanced Institute of Science and Technology 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2019103348
Aktenzeichen: EP18881925
Anmeldetag: 2. November 2018
Veröffentlichung: 31. Mai 2019
Rechtsraum: WO
IPC: G01B15/02G06T5/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Korea Advanced Institute of Science and Technology
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 KAIST

Südkoreanische technische Universität und Forschungsinstitution mit Fokus auf Ingenieurwissenschaften, Naturwissenschaften und Technologieentwicklung, unter anderem in Robotik und Elektronik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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