Dry etch rate reduction of silicon nitride films
WO2019103819
Art A1
31. Mai 2019
Anmelder: Applied Materials, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2019103819
- Aktenzeichen
- EP18880853
- Anmeldetag
- 1. November 2018
- Veröffentlichung
- 31. Mai 2019
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/02H05H1/46H01J37/32H01L21/67C23C16/455
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Applied Materials, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Applied Materials
US-amerikanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien. Applied Materials entwickelt Fertigungsanlagen und Prozesstechnologien für die Halbleiter-, Display- und Solarindustrie, unter anderem für Beschichtung, Ätzen und Materialabscheidung.
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